Nature.com ကိုလာရောက်လည်ပတ်သည့်အတွက် ကျေးဇူးတင်ပါသည်။သင်သည် အကန့်အသတ်ရှိသော CSS ပံ့ပိုးမှုဖြင့် ဘရောက်ဆာဗားရှင်းကို အသုံးပြုနေပါသည်။အကောင်းဆုံးအတွေ့အကြုံအတွက်၊ အပ်ဒိတ်လုပ်ထားသောဘရောက်ဆာ (သို့မဟုတ် Internet Explorer တွင် လိုက်ဖက်ညီသောမုဒ်ကိုပိတ်ပါ) ကိုအသုံးပြုရန် ကျွန်ုပ်တို့အကြံပြုအပ်ပါသည်။ထို့အပြင်၊ ဆက်လက်ပံ့ပိုးမှုသေချာစေရန်၊ ပုံစံများနှင့် JavaScript မပါဘဲ ဝဘ်ဆိုက်ကို ပြသပါသည်။
ဆလိုက် သုံးခုပါသော အဝိုင်းကို တစ်ပြိုင်နက် ပြသသည်။တစ်ကြိမ်လျှင် ဆလိုက်သုံးခုကို ရွှေ့ရန် ယခင်နှင့် နောက်ခလုတ်များကို အသုံးပြုပါ သို့မဟုတ် တစ်ကြိမ်လျှင် ဆလိုက်သုံးခုကို ရွှေ့ရန် အဆုံးရှိ ဆလိုက်ခလုတ်များကို အသုံးပြုပါ။
ဆေးဘက်ဆိုင်ရာကိရိယာများနှင့် ဇီဝဆေးပညာဆိုင်ရာအသုံးချပရိုဂရမ်များအတွက် အလွန်ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်းအသစ်များ တီထွင်ထုတ်လုပ်ခြင်းဖြင့် ၎င်းတို့၏ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဂုဏ်သတ္တိများကို ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့်ဖော်ပြခြင်းသည် အရေးကြီးပြီး စိန်ခေါ်မှုဖြစ်သည်။ပြုပြင်ထားသော atomic force microscopy (AFM) nanoindentation နည်းပညာကို lehfilcon A biomimetic ဆီလီကွန် ဟိုက်ဒရိုဂျယ် အဆက်အသွယ်မှန်ဘီလူး၏ အကိုင်းအခက် ပေါ်လီမာ စုတ်တံတည်ဆောက်ပုံများ အလွှာတစ်ခုဖြင့် ဖုံးအုပ်ထားသော အလွန်နိမ့်သော မျက်နှာပြင် မော်ဒူလပ်ကို လက္ခဏာပြရန် အသုံးချခဲ့သည်။ဤနည်းလမ်းသည် အကိုင်းအခက်ရှိသော ပိုလီမာများနှင့် ချဉ်းကပ်သောအခါ ပျစ်သော extrusion သက်ရောက်မှုမရှိဘဲ အဆက်အသွယ်အမှတ်များကို တိကျစွာဆုံးဖြတ်နိုင်စေပါသည်။ထို့အပြင်၊ ၎င်းသည် pooelasticity ၏အကျိုးသက်ရောက်မှုမရှိဘဲတစ်ဦးချင်းစီဖြီးဒြပ်စင်များ၏စက်ပိုင်းဆိုင်ရာလက္ခဏာများကိုဆုံးဖြတ်ရန်ဖြစ်နိုင်စေသည်။ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်းများနှင့် ဇီဝနမူနာများ၏ ဂုဏ်သတ္တိများကို တိုင်းတာရန်အတွက် အထူးသင့်လျော်သော ဒီဇိုင်း (အစွန်အဖျားအရွယ်အစား၊ ဂျီသြမေတြီနှင့် နွေဦးနှုန်း) ပါဝင်သော AFM စူးစမ်းလေ့လာမှုကို ရွေးချယ်ခြင်းဖြင့် ရရှိနိုင်ပါသည်။ဤနည်းလမ်းသည် မျက်နှာပြင်ဧရိယာ (2 kPa အထိ) နှင့် အတွင်းပိုင်း (100%) နီးပါးရှိသော ရေထုပတ်ဝန်းကျင်တွင် အလွန်ပျော့ပျောင်းသော ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်း lehfilcon A ၏ တိကျသောတိုင်းတာမှုအတွက် အာရုံခံနိုင်စွမ်းနှင့် တိကျမှုကို တိုးတက်စေသည်။ .မျက်နှာပြင်လေ့လာမှု၏ရလဒ်များသည် lehfilcon A မှန်ဘီလူး၏ အလွန်ပျော့ပျောင်းသော မျက်နှာပြင်ဂုဏ်သတ္တိများကို ထုတ်ဖော်ပြသရုံသာမက အကိုင်းအခက်ရှိသော ပိုလီမာစုတ်တံများ၏ မော်ဒူလပ်များသည် ဆီလီကွန်- ဟိုက်ဒရိုဂျင်အလွှာ၏ အလွှာများနှင့် နှိုင်းယှဉ်နိုင်ကြောင်း ပြသခဲ့သည်။ဤမျက်နှာပြင် အသွင်အပြင်နည်းပညာကို အခြားသော အလွန်ပျော့ပျောင်းသော ပစ္စည်းများနှင့် ဆေးဘက်ဆိုင်ရာ ကိရိယာများတွင် အသုံးချနိုင်သည်။
သက်ရှိတစ်ရှူးများနှင့် တိုက်ရိုက်ထိတွေ့ရန် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည့် ပစ္စည်းများ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများကို ဇီဝပတ်ဝန်းကျင်က ဆုံးဖြတ်လေ့ရှိသည်။ဤပစ္စည်းဂုဏ်သတ္တိများ၏ပြီးပြည့်စုံသောကိုက်ညီမှုသည်ဆိုးရွားသောဆယ်လူလာတုံ့ပြန်မှုများကိုမဖြစ်စေဘဲပစ္စည်း၏အလိုရှိသောလက်တွေ့ဝိသေသလက္ခဏာများကိုရရှိရန်ကူညီပေးသည်1,2,3။အစုလိုက် တစ်သားတည်းဖြစ်တည်နေသော ပစ္စည်းများအတွက်၊ စံလုပ်ထုံးလုပ်နည်းများနှင့် စမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းများ (ဥပမာ၊ microindentation4,5,6) ရရှိမှုကြောင့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများ၏ လက္ခဏာရပ်သည် အတော်လေး လွယ်ကူပါသည်။သို့ရာတွင်၊ ဂျယ်များ၊ ဟိုက်ဒရိုဂျယ်များ၊ ဇီဝပိုလီမာများ၊ သက်ရှိဆဲလ်များ စသည်တို့ကဲ့သို့သော အလွန်ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်းများအတွက်၊ ဤစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းများသည် တိုင်းတာမှု ကန့်သတ်ချက်များနှင့် အချို့သောပစ္စည်းများ၏ တစ်သမတ်တည်းဖြစ်ခြင်းကြောင့် ယေဘုယျအားဖြင့် အကျုံးမဝင်ပါ။နှစ်များတစ်လျှောက်၊ ရိုးရာအင်တင်းလုပ်နည်းများကို ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်းများ၏ ကျယ်ပြန့်သောသွင်ပြင်လက္ခဏာအဖြစ် ပြောင်းလဲပြီး လိုက်လျောညီထွေဖြစ်အောင် ပြုလုပ်ထားသော်လည်း နည်းလမ်းများစွာသည် ၎င်းတို့၏အသုံးပြုမှုကို ကန့်သတ်ထားသည့် ပြင်းထန်သောချို့ယွင်းချက်များနှင့် ကြုံတွေ့နေရဆဲဖြစ်သည်။စူပါဆော့ဖ်ဝဲပစ္စည်းများနှင့် မျက်နှာပြင်အလွှာများ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများကို တိကျယုံကြည်စိတ်ချစွာ ဖေါ်ပြနိုင်သည့် အထူးပြုစမ်းသပ်မှုနည်းလမ်းများ မရှိခြင်းသည် အမျိုးမျိုးသော အပလီကေးရှင်းများတွင် ၎င်းတို့၏အသုံးပြုမှုကို ပြင်းထန်စွာ ကန့်သတ်ထားသည်။
ကျွန်ုပ်တို့၏ယခင်လုပ်ဆောင်မှုတွင်၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် မျက်လုံး၏မျက်ကြည်လွှာ၏မျက်နှာပြင်မှမှုတ်သွင်းထားသော biomimetic ဒီဇိုင်းများမှဆင်းသက်လာသောအလွန်နူးညံ့သောမျက်နှာပြင်ဂုဏ်သတ္တိများရှိသောပျော့ပျောင်းသောအမျိုးအစားကွဲကွဲပြားသောပစ္စည်းဖြစ်သော lehfilcon A (CL) ကိုမိတ်ဆက်ပေးခဲ့သည်။ဤဇီဝပစ္စည်းကို poly(2-methacryloyloxyethylphosphorylcholine (MPC)) (PMPC) ၏ အကိုင်းအခက် ချိတ်ဆက်ထားသော ပိုလီမာအလွှာကို ဆီလီကွန် ဟိုက်ဒရိုဂျယ် (SiHy) 15 ပေါ်အခြေခံ၍ ဆေးဘက်ဆိုင်ရာ ကိရိယာများအတွက် ဒီဇိုင်းထုတ်ထားခြင်း ဖြစ်သည်။ဤ grafting လုပ်ငန်းစဉ်သည် အလွန်ပျော့ပျောင်းပြီး အလွန်ပျော့ပျောင်းသော အကိုင်းအခက်ရှိသော ပိုလီမာတစ်ဖြီးဖွဲ့စည်းပုံပါရှိသော မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် အလွှာတစ်ခု ဖန်တီးပေးသည်။ကျွန်ုပ်တို့၏ယခင်လုပ်ဆောင်မှုတွင် lehfilcon A CL ၏ biomimetic ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံသည် ပိုမိုကောင်းမွန်သောစိုစွတ်ခြင်းနှင့် ညစ်ညမ်းခြင်းကိုကာကွယ်ခြင်း၊ ချောဆီတိုးလာခြင်းနှင့် ဆဲလ်များနှင့်ဘက်တီးရီးယားများကပ်ငြိမှုကို လျှော့ချပေးခြင်းကဲ့သို့သော သာလွန်ကောင်းမွန်သောမျက်နှာပြင်ဂုဏ်သတ္တိများကိုပေးဆောင်ကြောင်း အတည်ပြုထားပါသည်။ထို့အပြင်၊ ဤ biomimetic ပစ္စည်း၏အသုံးပြုမှုနှင့်ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုသည်အခြားဇီဝဆေးဘက်ဆိုင်ရာကိရိယာများသို့ထပ်မံတိုးချဲ့ရန်အကြံပြုသည်။ထို့ကြောင့်၊ ဤလွန်ကဲပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်း၏ မျက်နှာပြင်ဂုဏ်သတ္တိများကို ပုံဖော်ရန်နှင့် အနာဂတ်တိုးတက်မှုများနှင့် အသုံးချမှုများကို ပံ့ပိုးရန်အတွက် ပြည့်စုံသောအသိပညာအခြေခံတစ်ခုဖန်တီးရန်အတွက် မျက်လုံးနှင့် ၎င်း၏စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ အပြန်အလှန်တုံ့ပြန်မှုကို နားလည်ရန် အရေးကြီးပါသည်။စီးပွားဖြစ်ရရှိနိုင်သော SiHy မျက်ကပ်မှန်အများစုသည် တူညီသောပစ္စည်းဖွဲ့စည်းပုံဖြစ်သည့် hydrophilic နှင့် hydrophobic ပိုလီမာများ၏ တစ်သားတည်းကျသော အရောအနှောများဖြင့် ဖွဲ့စည်းထားသည်။သမားရိုးကျ compression၊ tensile နှင့် microindentation test method18,19,20,21 ကို အသုံးပြု၍ ၎င်းတို့၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများကို စုံစမ်းရန် လေ့လာမှုများစွာ ပြုလုပ်ခဲ့သည်။သို့သော်လည်း၊ lehfilcon A CL ၏ ဆန်းသစ်သော biomimetic ဒီဇိုင်းသည် SiHy အောက်ခံအလွှာ၏ အကိုင်းအခက်များနှင့် ပေါင်းစပ်ထားသော ပေါ်လီမာစုတ်တံ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများ ကွဲပြားသည့် ထူးခြားသော ကွဲပြားသော ပစ္စည်းတစ်ခု ဖြစ်စေသည်။ထို့ကြောင့်၊ သမားရိုးကျနှင့် indentation နည်းလမ်းများကို အသုံးပြု၍ ဤဂုဏ်သတ္တိများကို တိကျစွာရေတွက်ရန် အလွန်ခက်ခဲပါသည်။အလားအလာရှိသောနည်းလမ်းတစ်ခုသည် ဇီဝဆဲလ်များနှင့် တစ်ရှူးများကဲ့သို့သော ပျော့ပျောင်းသောပိုလီမာ၂၂၊ ၂၃၊ ၂၄၊၂၅ ကဲ့သို့သော ပျော့ပျောင်းသော viscoelastic ပစ္စည်းများ၏စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဂုဏ်သတ္တိများကိုဆုံးဖြတ်ရန်အသုံးပြုထားသည့် atomic force microscopy (AFM) တွင် အကောင်အထည်ဖော်ထားသော နာနိုဝင်နေပုံစမ်းသပ်နည်းကို အသုံးပြုထားသည်။ .၊၂၆၊၂၇၊၂၈၊၂၉၊၃၀။AFM nanoindentation တွင်၊ nanoindentation စမ်းသပ်ခြင်း၏အခြေခံများကို AFM နည်းပညာ၏နောက်ဆုံးပေါ်တိုးတက်မှုများနှင့်ပေါင်းစပ်ထားပြီး တိုင်းတာမှုအာရုံခံနိုင်စွမ်းနှင့် မွေးရာပါစူပါဆော့ဖ်ဝဲပစ္စည်းများ၏ကျယ်ပြန့်သောစမ်းသပ်မှု31,32,33,34,35,36တို့ကိုပေးဆောင်သည်။ထို့အပြင်၊ နည်းပညာသည် မတူညီသော ဂျီသြမေတြီများကို အသုံးပြုခြင်းဖြင့် အခြားသော အရေးကြီးသော အားသာချက်များကို ပေးဆောင်သည်။indenter နှင့် probe နှင့် liquid media အမျိုးမျိုးတွင် စမ်းသပ်နိုင်ခြေ။
AFM nanoindentation ကို အခြေအနေအရ အဓိက အစိတ်အပိုင်း သုံးခုအဖြစ် ပိုင်းခြားနိုင်သည်- (1) ပစ္စည်းကိရိယာများ (အာရုံခံကိရိယာများ၊ ထောက်လှမ်းကိရိယာများ၊ ပစ္စတင်များ စသည်ဖြင့်)။(၂) တိုင်းတာခြင်းဘောင်များ (ဥပမာ အင်အား၊ နေရာရွှေ့ပြောင်းခြင်း၊ အရှိန်၊ ချဉ်းကပ်လမ်း အရွယ်အစား စသည်ဖြင့်)(၃) ဒေတာလုပ်ဆောင်ခြင်း (အခြေခံတည့်မတ်ခြင်း၊ ထိတွေ့အချက်ခန့်မှန်းခြင်း၊ ဒေတာကိုက်ညီခြင်း၊ မော်ဒယ်ပြုလုပ်ခြင်း စသည်)။ဤနည်းလမ်းအတွက် သိသာထင်ရှားသောပြဿနာတစ်ခုမှာ AFM nanoindentation ကိုအသုံးပြုထားသော စာပေလေ့လာချက်အများအပြားတွင် တူညီသောနမူနာ/ဆဲလ်/ပစ္စည်းအမျိုးအစား ၃၇၊၃၈၊၃၉၊၄၀၊၄၁ အတွက် အလွန်ကွဲပြားသော အရေအတွက်ရလဒ်များကို အစီရင်ခံပါသည်။ဥပမာ၊ Lekka et al။စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ တစ်သားတည်းဖြစ်တည်နေသော ဟိုက်ဒရိုဂျယ်နှင့် ကွဲပြားသောဆဲလ်များ၏ တိုင်းတာထားသော Young ၏ အစိတ်အပိုင်းနမူနာများအပေါ် AFM စူးစမ်းလေ့လာရေးဂျီသြမေတြီ၏ သြဇာလွှမ်းမိုးမှုကို လေ့လာပြီး နှိုင်းယှဉ်ခဲ့သည်။ကိန်းဂဏန်းတန်ဖိုးများသည် ပိရမစ်ပုံသဏ္ဍာန် စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုတစ်ခုအတွက် အမြင့်ဆုံးတန်ဖိုးနှင့် စက်လုံးပတ်လမ်းကြောင်းအတွက် အနိမ့်ဆုံးတန်ဖိုး 42 နှင့် cantilever ရွေးချယ်မှုနှင့် အစွန်အဖျားပုံသဏ္ဍာန်တို့အပေါ် များစွာမူတည်ကြောင်း ၎င်းတို့က တင်ပြသည်။အလားတူ Selhuber-Unkel et al ။polyacrylamide (PAAM)နမူနာများ၏ indenter speed၊ indenter size နှင့် thickness သည် ACM43 nanoindentation ဖြင့်တိုင်းတာသော Young ၏ modulus ကို မည်သို့အကျိုးသက်ရောက်ကြောင်းပြသထားပါသည်။နောက်ထပ်ရှုပ်ထွေးသည့်အချက်မှာ စံအလွန်နိမ့်သော မော်ဒူလပ်စမ်းသပ်ပစ္စည်းများနှင့် အခမဲ့စမ်းသပ်မှုလုပ်ထုံးလုပ်နည်းများ မရှိခြင်းပင်ဖြစ်သည်။၎င်းသည် ယုံကြည်စိတ်ချစွာဖြင့် တိကျသောရလဒ်များရရှိရန် အလွန်ခက်ခဲစေသည်။သို့သော်၊ နှိုင်းယှဉ်တိုင်းတာမှုများနှင့် အလားတူနမူနာအမျိုးအစားများကြား နှိုင်းယှဉ်အကဲဖြတ်ခြင်းအတွက် နည်းလမ်းသည် သာမာန်ဆဲလ်များကို ကင်ဆာဆဲလ်များ 44၊ 45 နှင့် ခွဲခြားရန် AFM nanoindentation ကိုအသုံးပြု၍ ဥပမာအားဖြင့် အလွန်အသုံးဝင်ပါသည်။
AFM nanoindentation ဖြင့် ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်းများကို စမ်းသပ်သောအခါ၊ လက်မ၏ ယေဘူယျစည်းမျဉ်းတစ်ရပ်မှာ နမူနာ မော်ဒူလပ်စ်နှင့် အလုံးလိုက်/အဝိုင်းအဖျားတို့ကို အနီးကပ်လိုက်ဖက်သော low spring constant (k) ပါသည့် ပရိုဘ်ကို အသုံးပြုရန် ဖြစ်သည် ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်းများကို ဦးစွာထိတွေ့ပါ။probe မှထုတ်ပေးသော deflection signal ကို laser detector system24,34,46,47 ဖြင့်ထောက်လှမ်းနိုင်လောက်အောင် အားကောင်းနေရန်လည်း အရေးကြီးပါသည်။အလွန်ပျော့ပျောင်းသော ကွဲပြားသောဆဲလ်များ၊ တစ်ရှူးများနှင့် ဂျယ်များကိစ္စတွင်၊ မျိုးပွားနိုင်သောနှင့် ယုံကြည်စိတ်ချရသော တိုင်းတာမှုများကို သေချာစေရန်အတွက် နောက်ထပ်စိန်ခေါ်မှုမှာ မျိုးပွားနိုင်သောနှင့် နမူနာမျက်နှာပြင်ကြားရှိ ကော်ဓာတ်အား ကျော်လွှားရန်ဖြစ်သည်။မကြာသေးမီအထိ၊ AFM nanoindentation တွင် အလုပ်အများစုသည် ဇီဝဆဲလ်များ၊ တစ်ရှူးများ၊ ဂျယ်များ၊ ဟိုက်ဒရိုဂျယ်များနှင့် ဇီဝမော်လီကျူးများ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာအမူအကျင့်များကို လေ့လာရန် အာရုံစိုက်ထားပြီး၊ အများအားဖြင့် colloidal probes (CPs) ကို အသုံးပြု၍ ကြီးမားသော လုံးပတ်ပလေတပ်များကို အသုံးပြုထားသည်။47၊ 51၊ 52၊ 53၊ 54၊ 55။ ဤအကြံပြုချက်များသည် အချင်းဝက် 1 မှ 50 µm ရှိပြီး အများအားဖြင့် borosilicate glass၊ polymethyl methacrylate (PMMA), polystyrene (PS), silicon dioxide (SiO2) နှင့် diamond- ကာဗွန် (DLC) ကဲ့သို့ဖြစ်သည်။CP-AFM nanoindentation သည် ပျော့ပျောင်းသောနမူနာပုံစံဖော်ပြခြင်းအတွက် ပထမဆုံးရွေးချယ်မှုဖြစ်သော်လည်း ၎င်း၏ကိုယ်ပိုင်ပြဿနာများနှင့် ကန့်သတ်ချက်များရှိသည်။ကြီးမားပြီး မိုက်ခရိုအရွယ် လုံးပတ်ချာချာ အကြံပြုချက်များကို အသုံးပြုခြင်းသည် နမူနာနှင့်အတူ ထိပ်ဖျား၏ စုစုပေါင်း အဆက်အသွယ် ဧရိယာကို တိုးစေပြီး spatial resolution ၏ သိသိသာသာ ဆုံးရှုံးမှုကို ဖြစ်ပေါ်စေပါသည်။ဒေသဆိုင်ရာဒြပ်စင်များ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဂုဏ်သတ္တိများသည် ဧရိယာကျယ်ဝန်းသော ပျမ်းမျှနှင့် သိသိသာသာကွာခြားနိုင်သည့် ပျော့ပျောင်းသော၊ တစ်သားတည်းမဟုတ်သောနမူနာများအတွက် CP indentation သည် ဒေသဆိုင်ရာ scale52 တွင် ဂုဏ်သတ္တိများအတွင်း တူညီမှုမရှိခြင်းကို ဖုံးကွယ်နိုင်သည်။Colloidal probes များကို epoxy adhesives များအသုံးပြု၍ micron အရွယ်အစားရှိသော colloidal စက်လုံးများအား epoxy adhesives များအသုံးပြု၍ tipless cantilever များထံ ချိတ်ဆက်ခြင်းဖြင့် ပြုလုပ်သည်။ထုတ်လုပ်မှု လုပ်ငန်းစဉ်သည် ပြဿနာများစွာဖြင့် ပြည့်နှက်နေပြီး စုံစမ်းစစ်ဆေးမှု ချိန်ညှိခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်တွင် ရှေ့နောက်မညီမှုများ ဖြစ်ပေါ်စေနိုင်သည်။ထို့အပြင်၊ colloidal အမှုန်များ၏အရွယ်အစားနှင့်ထုထည်သည် ပဲ့တင်ထပ်သောကြိမ်နှုန်း၊ စပရိန်တင်းမာမှုနှင့် deflection sensitivity 56,57,58 ကဲ့သို့သော cantilever ၏အဓိကစံကိုက်သတ်မှတ်ချက်ဘောင်များကို တိုက်ရိုက်အကျိုးသက်ရောက်စေသည်။ထို့ကြောင့်၊ သမရိုးကျ AFM probes များအတွက် အသုံးများသော နည်းလမ်းများဖြစ်သည့် အပူချိန် ချိန်ညှိခြင်းကဲ့သို့သော CP အတွက် တိကျသော ချိန်ညှိမှု မရရှိနိုင်ဘဲ၊ ဤပြင်ဆင်မှုများကို လုပ်ဆောင်ရန် အခြားနည်းလမ်းများ လိုအပ်နိုင်သည် ပျော့ပြောင်းနမူနာများ၏ ဂုဏ်သတ္တိများကို လေ့လာပါ၊ ၎င်းသည် cantilever ၏ မျဉ်းဖြောင့်မဟုတ်သော အပြုအမူကို ချိန်ညှိသောအခါတွင် အခြားပြဿနာတစ်ခု ဖန်တီးပေးသည့် 62,63,64။ခေတ်မီ colloidal probe indentation နည်းလမ်းများသည် အများအားဖြင့် probe ကို ချိန်ညှိရန် အသုံးပြုသော cantilever ၏ ဂျီဩမေတြီကို ထည့်သွင်းစဉ်းစားသော်လည်း method38,61 ၏ တိကျမှုအတွက် ထပ်လောင်းမရေရာမှုများကို ဖန်တီးပေးသည့် colloidal particles များ၏ လွှမ်းမိုးမှုကို လျစ်လျူရှုထားသည်။အလားတူ၊ အဆက်အသွယ်မော်ဒယ် အံဝင်ခွင်ကျဖြင့် တွက်ချက်ထားသော elastic moduli များသည် indentation probe ၏ ဂျီသြမေတြီပေါ်တွင် တိုက်ရိုက်မူတည်ပြီး အစွန်အဖျားနှင့် နမူနာမျက်နှာပြင်လက္ခဏာများကြား မကိုက်ညီပါက တိကျမှု 27, 65, 66, 67, 68 သို့ ဦးတည်သွားနိုင်သည်။ အချို့သော လတ်တလော အလုပ်များကို Spencer et al.CP-AFM nanoindentation နည်းလမ်းကို အသုံးပြု၍ ပျော့ပျောင်းသော ပိုလီမာ ဘရက်ရှ်များ အသွင်အပြင်ကို ထည့်သွင်းသည့်အခါ ထည့်သွင်းစဉ်းစားရမည့်အချက်များကို မီးမောင်းထိုးပြထားသည်။မြန်နှုန်းလုပ်ဆောင်မှုတစ်ခုအနေဖြင့် ပိုလီမာစုတ်တံများတွင် အရည်ပျစ်သောအရည်ကို ထိန်းထားခြင်းသည် ဦးခေါင်းတင်ဆောင်မှုကို တိုးလာစေပြီး ထို့ကြောင့် အမြန်နှုန်းပေါ်မူတည်သည့် ဂုဏ်သတ္တိများ 30,69,70,71 တို့ကို ကွဲပြားစွာတိုင်းတာကြောင်း ၎င်းတို့က အစီရင်ခံတင်ပြခဲ့သည်။
ဤလေ့လာမှုတွင်၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် ပြုပြင်ထားသော AFM nanoindentation နည်းလမ်းကို အသုံးပြု၍ အလွန်ပျော့ပျောင်းသော အလွန်ပျော့ပျောင်းသော ပစ္စည်း lehfilcon A CL ၏ မျက်နှာပြင် အစိတ်အပိုင်းကို ခွဲခြားသတ်မှတ်ထားပါသည်။ဤပစ္စည်း၏ ဂုဏ်သတ္တိများနှင့် ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံအသစ်အရ၊ သမားရိုးကျ အင်တင်းရေးနည်းလမ်း၏ အာရုံခံနိုင်စွမ်းအကွာအဝေးသည် ဤအလွန်ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်း၏ modulus ကိုဖော်ပြရန် ရှင်းရှင်းလင်းလင်းမလုံလောက်သောကြောင့်၊ မြင့်မားသော အာရုံခံနိုင်စွမ်းနှင့် နိမ့်သော အာရုံခံနိုင်စွမ်းရှိသော AFM nanoindentation နည်းလမ်းကို အသုံးပြုရန်လိုအပ်ပါသည်။အဆင့်ရှိပြီးသား colloidal AFM probe nanoindentation နည်းပညာများ၏ ချို့ယွင်းချက်များနှင့် ပြဿနာများကို ပြန်လည်သုံးသပ်ပြီးနောက်၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် အာရုံခံနိုင်စွမ်း၊ နောက်ခံဆူညံသံ၊ ထိတွေ့မှုအမှတ်ကို ဖယ်ရှားရန်၊ အရည်ထိန်းသိမ်းမှုကဲ့သို့သော ပျော့ပျောင်းသောမျိုးကွဲကွဲပြားသည့်ပစ္စည်းများ၏ အမြန်နှုန်းကို တိုင်းတာရန် သေးငယ်သော၊ စိတ်ကြိုက်ဒီဇိုင်းပြုလုပ်ထားသော AFM စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုအား ဘာကြောင့်ရွေးချယ်ခဲ့သည်ကို ပြသသည် မှီခိုမှု။နှင့် တိကျသော ပမာဏ။ထို့အပြင်၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် ပစ္စည်းနှင့် ထိပ်ဖျား၏ ထိတွေ့ဧရိယာကို အကဲဖြတ်ခြင်းမပြုဘဲ cone-sphere fit model ကို အသုံးပြု၍ ပစ္စည်းနှင့် ထိပ်ဖျား၏ ထိတွေ့မှုဧရိယာကို အကဲဖြတ်ခြင်းမပြုဘဲ၊ ထို့အပြင်၊ဤလုပ်ငန်းတွင် တွက်ချက်ထားသော သွယ်ဝိုက်သောယူဆချက်နှစ်ခုမှာ အပြည့်အဝ elastic material ဂုဏ်သတ္တိများနှင့် indentation depth-independent modulus တို့ဖြစ်သည်။ဤနည်းလမ်းကိုအသုံးပြု၍ နည်းလမ်းကိုရေတွက်ရန် လူသိများသော modulus ဖြင့် အလွန်အပျော့စားစံနှုန်းများကို ဦးစွာစမ်းသပ်ခဲ့ပြီး၊ ထို့နောက် မတူညီသောမျက်ကပ်မှန်ပစ္စည်းနှစ်ခု၏ မျက်နှာပြင်များကို ပုံဖော်ရန်အတွက် ဤနည်းလမ်းကို အသုံးပြုခဲ့သည်။အာရုံခံနိုင်စွမ်း တိုးမြင့်လာသော AFM nanoindentation မျက်နှာပြင်များကို ပုံသဏ္ဍာန်ဖော်ပြခြင်းနည်းလမ်းသည် ဆေးဘက်ဆိုင်ရာကိရိယာများနှင့် ဇီဝဆေးပညာဆိုင်ရာအသုံးချပရိုဂရမ်များတွင် ဖြစ်နိုင်ချေရှိသော biomimetic ကွဲပြားသော ultrasoft ပစ္စည်းများ ကျယ်ပြန့်စွာ အသုံးပြုနိုင်မည်ဟု မျှော်လင့်ပါသည်။
Lehfilcon A မျက်ကပ်မှန်များ (Alcon၊ Fort Worth၊ Texas၊ USA) နှင့် ၎င်းတို့၏ ဆီလီကွန် ဟိုက်ဒရိုဂျယ် အလွှာများကို နာနိုလိမ်းဆေး စမ်းသပ်မှုများအတွက် ရွေးချယ်ခဲ့သည်။စမ်းသပ်မှုတွင် အထူးဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော မှန်ဘီလူးတပ်ဆင်အား အသုံးပြုခဲ့သည်။စမ်းသပ်ရန်အတွက် မှန်ဘီလူးကို တပ်ဆင်ရန်အတွက် အမိုးအကာပုံစံ မတ်တပ်ရပ်ပေါ်တွင် ဂရုတစိုက်ထားရှိကာ အတွင်းတွင် လေပူဖောင်းများ မ၀င်ရောက်ကြောင်း သေချာစေကာ အနားစွန်းများဖြင့် ပြုပြင်ပေးသည်။မှန်ဘီလူးကိုင်ဆောင်သူ၏ ထိပ်ရှိ အပေါက်တစ်ခုသည် အရည်ကို ကိုင်ထားစဉ် နာနိုဝင်ခြင်းစမ်းသပ်မှုများအတွက် မှန်ဘီလူး၏အလင်းဗဟိုသို့ ဝင်ရောက်ခွင့်ပေးသည်။၎င်းသည် မျက်ကပ်မှန်များကို ရေဓာတ်အပြည့်အဝရရှိစေပါသည်။500 μl မျက်ကပ်မှန်ထုပ်ပိုးမှုဖြေရှင်းချက်ကိုစမ်းသပ်ဖြေရှင်းချက်အဖြစ်အသုံးပြုခဲ့သည်။အရေအတွက်ရလဒ်များကို အတည်ပြုရန်၊ စီးပွားဖြစ်ရရှိနိုင်သော မတက်ကြွသော polyacrylamide (PAAM) ဟိုက်ဒရိုဂျယ်များကို polyacrylamide-co-methylene-bisacrylamide ဖွဲ့စည်းမှု (100 မီလီမီတာ Petrisoft Petri ဟင်းလျာများ၊ Matrigen၊ Irvine, CA, USA)၊ လူသိများသော elastic modulus 1 ခု၊ kPaဖော့စဖိတ်ဆားရည် 4-5 စက် (ခန်.) AFM hydrogel-probe မျက်နှာပြင်တွင်။
Lehfilcon A CL နှင့် SiHy အလွှာများ၏နမူနာများကို FEI Quanta 250 Field Emission Scanning Electron Microscope (FEG SEM) စနစ်ဖြင့် Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) detector ဖြင့် ပုံဖော်ထားပါသည်။နမူနာများကိုပြင်ဆင်ရန်၊ မှန်ဘီလူးများကို ဦးစွာရေဖြင့်ဆေးကြောပြီး အဝိုင်းပုံသဏ္ဍာန်သပ်သပ်စီဖြစ်အောင်လှီးဖြတ်ပါ။နမူနာများ၏ hydrophilic နှင့် hydrophobic အစိတ်အပိုင်းများအကြား ခြားနားသော ခြားနားမှုတစ်ခုရရှိရန်၊ နမူနာများကို မိနစ် 30 ကြာ နှစ်မြှုပ်ထားသည့် RuO4 ၏ 0.10% တည်ငြိမ်သောအဖြေကို အသုံးပြုခဲ့သည်။lehfilcon A CL RuO4 စွန်းထင်းမှုသည် ပိုမိုကောင်းမွန်သောကွဲပြားသည့်ခြားနားမှုကိုရရှိစေရုံသာမက STEM ပုံများတွင်မြင်နိုင်သည့်အကိုင်းအခက်ပိုလီမာဘရက်ရှများ၏ဖွဲ့စည်းပုံကိုထိန်းသိမ်းရန်လည်းအရေးကြီးပါသည်။ထို့နောက် ၎င်းတို့ကို အီသနော အာရုံစူးစိုက်မှု တိုးလာခြင်းဖြင့် အီသနော/ရေ ရောစပ်မှု ဆက်တိုက် ဆေးကြောပြီး ရေဓာတ်ခန်းခြောက်စေခဲ့သည်။ထို့နောက်နမူနာများကို EMBed 812/Araldite epoxy ဖြင့် သွန်းလုပ်ခဲ့ပြီး၊ 70°C တွင် တစ်ညတာ ပျောက်ကင်းစေပါသည်။အစေးပေါ်လီမာပြုလုပ်ခြင်းမှရရှိသောနမူနာတုံးများကို ultramicrotome ဖြင့်ဖြတ်တောက်ပြီး ရရှိလာသောပါးလွှာသောအပိုင်းများကို 30 kV အရှိန်မြှင့်ဗို့အား 30 kV တွင် STEM detector ဖြင့် မြင်သာထင်ရှားစေသည်။အလားတူ SEM စနစ်အား PFQNM-LC-A-CAL AFM စုံစမ်းစစ်ဆေးမှု (Bruker Nano, Santa Barbara, CA, USA) ၏ အသေးစိတ်လက္ခဏာရပ်များအတွက် အသုံးပြုခဲ့သည်။AFM probe ၏ SEM ပုံများကို အရှိန်မြှင့်ဗို့အား 30 kV ဖြင့် ပုံမှန်မြင့်မားသော လေဟာနယ်မုဒ်တွင် ရရှိခဲ့သည်။AFM probe ထိပ်ဖျား၏ ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် အရွယ်အစားအသေးစိတ်အားလုံးကို မှတ်တမ်းတင်ရန်အတွက် မတူညီသောထောင့်များနှင့် ချဲ့ထွင်ထားသောပုံများကို ရယူပါ။ရုပ်ပုံများပေါ်ရှိ စိတ်ဝင်စားဖွယ် အစွန်အဖျားအတိုင်းအတာအားလုံးကို ဒစ်ဂျစ်တယ်စနစ်ဖြင့် တိုင်းတာထားသည်။
"PeakForce QNM in Fluid" မုဒ်ဖြင့် "Bruker Nano၊ Santa Barbara, CA, USA) ၏ အတိုင်းအတာ FastScan Bio Icon ကို lehfilcon A CL၊ SiHy အလွှာနှင့် PAAm ဟိုက်ဒရိုဂျယ်နမူနာများကို မြင်သာစေပြီး nanoindentate လုပ်ရန်အတွက် အသုံးပြုထားသည်။ပုံရိပ်စမ်းသပ်မှုများအတွက်၊ အမည်ခံအစွန်အဖျား အချင်းဝက်ရှိသော PEAKFORCE-HIRS-FA (Bruker) ကို စကင်န်နှုန်း 0.50 Hz ဖြင့် နမူနာ၏ မြင့်မားသော ရုပ်ထွက်ပုံရိပ်များကို ဖမ်းယူရန်အတွက် အသုံးပြုခဲ့သည်။ပုံအားလုံးကို ရေအေးဖြင့် ရိုက်ယူထားသည်။
AFM nanoindentation စမ်းသပ်မှုများကို PFQNM-LC-A-CAL probe (Bruker) ကို အသုံးပြု၍ ပြုလုပ်ခဲ့သည်။AFM probe တွင် ပဲ့တင်ထပ်သောကြိမ်နှုန်း 45 kHz ရှိသော နိုက်ထရိုက် cantilever 345 nm အထူ၊ 54 µm အရှည်နှင့် 4.5 µm အကျယ်ရှိသော nitride cantilever ပေါ်တွင် ဆီလီကွန်ထိပ်ဖျားတစ်ခုရှိသည်။၎င်းသည် ပျော့ပျောင်းသော ဇီဝနမူနာများပေါ်တွင် ကိန်းဂဏန်း နာနိုစက်ပိုင်းဆိုင်ရာ တိုင်းတာမှုများ ပြုလုပ်ရန် အထူးဒီဇိုင်းထုတ်ထားသည်။အာရုံခံကိရိယာများကို ကြိုတင်ချိန်ညှိထားသော စပရိန်ဆက်တင်များဖြင့် စက်ရုံတွင် တစ်ဦးချင်းစီ ချိန်ညှိထားသည်။ဤလေ့လာမှုတွင်အသုံးပြုသည့် probes ၏နွေဦးကိန်းသေများသည် 0.05–0.1 N/m တွင်ရှိသည်။အစွန်အဖျား၏ ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် အရွယ်အစားကို တိကျစွာဆုံးဖြတ်ရန်၊ စုံစမ်းစစ်ဆေးမှုအား SEM ကို အသုံးပြု၍ အသေးစိတ်ဖော်ပြခဲ့သည်။သဖန်းသီးပေါ်မှာ။ပုံ 1a သည် PFQNM-LC-A-CAL probe ၏ မြင့်မားသော ကြည်လင်ပြတ်သားမှု၊ ချဲ့ထွင်မှု နည်းပါးသော အီလက်ထရွန် အမိုက်ခရိုဂရပ်ဖစ်ကို ပြသထားပြီး၊ စူးစမ်းလေ့လာခြင်း ဒီဇိုင်းကို အလုံးစုံ ရှုမြင်နိုင်သည်။သဖန်းသီးပေါ်မှာ။1b သည် ထိပ်ဖျား၏ ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် အရွယ်အစားအကြောင်း အချက်အလက်ကို ပေးဆောင်သည့် စူးစမ်းလေ့လာရေးအစွန်အဖျား၏ ထိပ်ပိုင်းကို ကျယ်သော မြင်ကွင်းကို ပြသသည်။အဆုံးတွင်၊ အပ်သည် အချင်း 140 nm (ပုံ 1c) ခန့်ရှိသော hemisphere တစ်ခုဖြစ်သည်။ဤအောက်ခြေတွင်၊ ထိပ်ဖျားသည် ခန့်မှန်းခြေအားဖြင့် 500 nm အတိုင်းအတာအထိ အလျားကို conical ပုံသဏ္ဍာန်အဖြစ်သို့ ရောက်သွားပါသည်။သွယ်လျသောဒေသအပြင်ဘက်တွင်၊ ထိပ်ဖျားသည် ဆလင်ဒါပုံဖြစ်ပြီး စုစုပေါင်းအဖျားအရှည် 1.18 µm ဖြင့် အဆုံးသတ်သည်။ဤအရာသည် probe ထိပ်ဖျား၏ အဓိက လုပ်ဆောင်နိုင်သော အစိတ်အပိုင်းဖြစ်သည်။ထို့အပြင်၊ အစွန်အဖျားအချင်း 45 µm နှင့် 2 N/m ၏ စပရိန်ကိန်းသေ 2 N/m ရှိသည့် ကြီးမားသော လုံးပတ် polystyrene (PS) probe (Novascan Technologies, Inc., Boone, Iowa, USA) ကို စမ်းသပ်ရန်အတွက်လည်း အသုံးပြုခဲ့သည်။နှိုင်းယှဉ်ရန်အတွက် PFQNM-LC-A-CAL 140 nm probe နှင့်။
Nanoindentation လုပ်နေစဉ်အတွင်း အရည်သည် AFM probe နှင့် polymer brush တည်ဆောက်ပုံကြားတွင် ပိတ်မိနိုင်ပြီး၊ ၎င်းသည် AFM probe ကို အမှန်တကယ်မထိမီ AFM probe တွင် အထက်သို့တွန်းအားပေးမည် 69။အရည်ထိန်းထားခြင်းကြောင့် ဤအပျစ်အခဲများ ထုတ်ယူခြင်းအကျိုးသက်ရောက်မှုသည် ထိတွေ့မှုအမှတ်ကို ပြောင်းလဲစေပြီး မျက်နှာပြင် မော်ဒူလပ်တိုင်းတာမှုများကို ထိခိုက်စေပါသည်။အရည်ထိန်းထားမှုအပေါ် probe ဂျီသြမေတြီနှင့် indentation speed ၏အကျိုးသက်ရောက်မှုကို လေ့လာရန်၊ indentation force curves များကို lehfilcon A CL နမူနာများအတွက် 140 nm အချင်း probe ကို 1 µm/s နှင့် 2 µm/s တို့တွင် အဆက်မပြတ် နေရာရွှေ့ပြောင်းမှုနှုန်းဖြင့် ရေးဆွဲထားသည်။probe အချင်း 45 µm၊ fixed force setting 6 nN သည် 1 µm/s တွင် အောင်မြင်သည်။အချင်း 140 nm ရှိသော probe နှင့် စမ်းသပ်မှုများကို 1 µm/s ၏ indentation speed နှင့် set force 300 pN ဖြင့် အထက်မျက်ခွံ၏ ဇီဝကမ္မအကွာအဝေး (1-8 kPa) အတွင်း ထိတွေ့မှုဖိအားတစ်ခုဖန်တီးရန် ရွေးချယ်ခဲ့သည်။ဖိအား 72. ဖိအား 1 kPa ရှိသော PAA ဟိုက်ဒရိုဂျယ်၏ ပျော့ပျောင်းသော အဆင်သင့်နမူနာများကို အချင်း 140 nm ရှိသော probe ကို အသုံးပြု၍ 50 pN indentation force ကို 1 μm/s ဖြင့် စမ်းသပ်ခဲ့သည်။
PFQNM-LC-A-CAL probe ၏အစွန်အဖျား၏ conical အစိတ်အပိုင်း၏အရှည်သည် ခန့်မှန်းခြေအားဖြင့် 500 nm ဖြစ်သောကြောင့် မည်သည့် indentation depth < 500 nm အတွက်မဆို indentation ပြုလုပ်နေစဉ်အတွင်း probe ၏ ဂျီသြမေတြီသည် ၎င်း၏အတိုင်း ဆက်လက်တည်ရှိနေမည်ဟု လုံခြုံစွာယူဆနိုင်ပါသည်။ cone ပုံသဏ္ဍာန်။ထို့အပြင်၊ စမ်းသပ်မှုအောက်တွင်ရှိသော ပစ္စည်း၏မျက်နှာပြင်သည် နောက်ပြန်လှည့်နိုင်သော elastic တုံ့ပြန်မှုကိုပြသနိုင်မည်ဟု ယူဆရပြီး အောက်ပါအပိုင်းများတွင်လည်း အတည်ပြုနိုင်မည်ဖြစ်သည်။ထို့ကြောင့်၊ ထိပ်ဖျား၏ ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် အရွယ်အစားပေါ် မူတည်၍ ကျွန်ုပ်တို့သည် ကျွန်ုပ်တို့၏ AFM nanoindentation စမ်းသပ်မှု (NanoScope) ကို လုပ်ဆောင်ရန်အတွက် Briscoe၊ Sebastian နှင့် Adams မှ ထုတ်လုပ်သည့် cone-sphere အံဝင်ခွင်ကျ မော်ဒယ်ကို ရွေးချယ်ခဲ့ပါသည်။ခွဲထွက်ခြင်းဒေတာခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဆော့ဖ်ဝဲ၊ Bruker) 73. မော်ဒယ်သည် လုံးပတ်အထွတ်ချို့ယွင်းချက်ရှိသော ပုံးတစ်ခုအတွက် force-displacement relationship F(δ) ကို ဖော်ပြသည်။သဖန်းသီးပေါ်မှာ။ပုံ 2 သည် စက်ဆုပ်အစွန်အဖျားတစ်ခုနှင့် တောင့်တင်းသော cone ၏အပြန်အလှန်ဆက်သွယ်မှုအတွင်း ဂျီသြမေတြီကိုပြသည်၊ R သည် လုံးပတ်အစွန်အဖျား၏အချင်းဝက်၊ a သည် အဆက်အသွယ်အချင်းဝက်၊ b သည် လုံးပတ်အစွန်အဖျား၏အဆုံးရှိ အဆက်အသွယ်အချင်းဝက်၊ δ သည် အဆက်အသွယ်အချင်းဝက်။indentation depth၊ θ သည် cone ၏ တစ်ဝက်ထောင့်ဖြစ်သည်။ဤစုံစမ်းစစ်ဆေးခြင်း၏ SEM ရုပ်ပုံသည် 140 nm အချင်း လုံးပတ်အစွန်အဖျားသည် ဣဿာကို cone တစ်ခုအဖြစ် ပေါင်းစည်းကြောင်း ရှင်းရှင်းလင်းလင်းပြသထားပြီး၊ ထို့ကြောင့် ဤနေရာတွင် b ကို R အားဖြင့်သာ သတ်မှတ်သည်၊ ဆိုလိုသည်မှာ b = R cos θ ဖြစ်သည်။ရောင်းချသူ-ပံ့ပိုးပေးသောဆော့ဖ်ဝဲလ်သည် a > b ဟုယူဆရသည့် အင်အားခွဲထုတ်ခြင်းဒေတာမှ Young ၏ module (E) တန်ဖိုးများကိုတွက်ချက်ရန် cone-sphere ဆက်ဆံရေးကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။ဆက်ဆံရေး-
F သည် indentation force ဖြစ်ပြီး E သည် Young ၏ modulus ဖြစ်ပြီး ν သည် Poisson ၏ အချိုးဖြစ်သည်။အဆက်အသွယ် အချင်းဝက်ကို အသုံးပြု၍ ခန့်မှန်းနိုင်သည်-
အကိုင်းအခက် ပေါ်လီမာ စုတ်တံများ၏ မျက်နှာပြင်အလွှာပါရှိသော Lefilcon အဆက်အသွယ်မှန်ဘီလူး၏ ပစ္စည်းထဲသို့ ချိန်းဆောအစွန်အဖျားဖြင့် တင်းကျပ်သောကွန်ရိုး၏ အဆက်အသွယ်ဂျီသြမေတြီပုံစံ။
a ≤ b ဖြစ်ပါက၊ ဆက်စပ်မှုသည် သမားရိုးကျ လုံးပတ်အင်တင်းတစ်ခုအတွက် ညီမျှခြင်းသို့ လျော့ကျသွားသည်၊
PMPC ပေါ်လီမာဘရက်ရှ်၏ အကိုင်းအခက်ဖွဲ့စည်းပုံနှင့် အတွင်းသို့ဝင်သည့် စူးစမ်းမှု၏ အပြန်အလှန်တုံ့ပြန်မှုသည် အဆက်အသွယ်အချင်းဝက် a ကို လုံးပတ်အဆက်အသွယ် အချင်းဝက် b ထက် ပိုကြီးစေသည်ဟု ကျွန်ုပ်တို့ယုံကြည်ပါသည်။ထို့ကြောင့်၊ ဤလေ့လာမှုတွင်လုပ်ဆောင်ခဲ့သော elastic modulus ၏အရေအတွက်တိုင်းတာမှုအားလုံးအတွက်၊ case a > b အတွက်ရရှိသောမှီခိုမှုကိုအသုံးပြုခဲ့သည်။
ဤလေ့လာမှုတွင် လေ့လာခဲ့သည့် ultrasoft biomimetic ပစ္စည်းများကို နမူနာဖြတ်ပိုင်းနှင့် မျက်နှာပြင်၏ atomic force microscopy (AFM) ၏ စကင်ဖတ်စစ်ဆေးခြင်း ဂီယာအီလက်ထရွန်အဏုစကုပ် (STEM) ကို အသုံးပြု၍ ပြည့်စုံစွာ ပုံဖော်ထားသည်။ဤအသေးစိတ်သော မျက်နှာပြင်လက္ခဏာသတ်မှတ်ခြင်းအား ကျွန်ုပ်တို့၏ယခင်ထုတ်ဝေထားသောအလုပ်၏ တိုးချဲ့မှုတစ်ခုအနေဖြင့် လုပ်ဆောင်ခဲ့ခြင်းဖြစ်ပြီး PMPC-modified lehfilcon A CL မျက်နှာပြင်၏ dynamically branched polymeric brush structure သည် မူလမျက်ကြည်လွှာတစ်ရှူး 14 နှင့် အလားတူစက်ပိုင်းဆိုင်ရာဂုဏ်သတ္တိများကိုပြသထားကြောင်း ကျွန်ုပ်တို့ဆုံးဖြတ်ခဲ့သည်။ထို့ကြောင့်၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် မျက်ကပ်မှန်မျက်နှာပြင်များကို biomimetic ပစ္စည်းများအဖြစ် ရည်ညွှန်းပါသည်။14။သဖန်းသီးပေါ်မှာ။3a၊b သည် lehfilcon A CL အလွှာ၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အကိုင်းအခက် PMPC ပေါ်လီမာ စုတ်တံတည်ဆောက်ပုံများ၏ အပိုင်းများကို ပြသပြီး မကုသရသေးသော SiHy အလွှာကို တွေ့ရပါသည်။နမူနာနှစ်ခုလုံး၏ မျက်နှာပြင်များကို ကြည်လင်ပြတ်သားသော AFM ရုပ်ပုံများ အသုံးပြု၍ ထပ်မံခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာပြီး STEM ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှု၏ ရလဒ်များ (ပုံ။ 3c၊ ဃ)စုစည်းထားသော ဤပုံများသည် AFM nanoindentation တိုင်းတာချက်များကို အဓိပ္ပာယ်ပြန်ဆိုရန်အတွက် အရေးကြီးသော 300-400 nm တွင် PMPC အကိုင်းအခက်ပိုလီမာစုတ်တံတည်ဆောက်ပုံ၏ ခန့်မှန်းခြေအရှည်ကို ပေးပါသည်။ရုပ်ပုံများမှရရှိသည့် နောက်ထပ်သော့အချက်မှာ CL biomimetic material ၏ မျက်နှာပြင်ဖွဲ့စည်းပုံသည် SiHy အောက်ခံပစ္စည်းနှင့် morphologically ကွဲပြားနေခြင်းဖြစ်သည်။၎င်းတို့၏ မျက်နှာပြင်ပုံသဏ္ဍာန်တွင် ဤခြားနားချက်သည် AFM probe နှင့် ၎င်းတို့၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ အပြန်အလှန်တုံ့ပြန်မှုအတွင်း ထင်ရှားလာပြီး နောက်ပိုင်းတွင် တိုင်းတာထားသော မော်ဒူလပ်တန်ဖိုးများတွင် ထင်ရှားလာနိုင်သည်။
(က) lehfilcon A CL နှင့် (b) SiHy အလွှာ၏ အပိုင်းပိုင်း STEM ပုံများ။စကေးဘား၊ 500 nm ။lehfilcon A CL substrate (c) နှင့် base SiHy substrate (d) (3 µm × 3 µm) ၏ မျက်နှာပြင်၏ AFM ပုံများ။
ဇီဝမှုတ်သွင်းထားသော ပိုလီမာများနှင့် ပိုလီမာစုတ်တံတည်ဆောက်ပုံများသည် မွေးရာပါ ပျော့ပျောင်းပြီး အမျိုးမျိုးသော ဇီဝဆေးပညာဆိုင်ရာအသုံးချပရိုဂရမ်များတွင် ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် လေ့လာပြီး အသုံးပြုခဲ့ကြသည်။ထို့ကြောင့်၊ ၎င်းတို့၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများကို တိကျစွာ ယုံကြည်စိတ်ချစွာ တိုင်းတာနိုင်သည့် AFM nanoindentation နည်းလမ်းကို အသုံးပြုရန် အရေးကြီးပါသည်။သို့သော် တစ်ချိန်တည်းတွင်၊ အလွန်နိမ့်သော elastic modulus၊ အရည်ပါဝင်မှုနှင့် မြင့်မားသော elasticity ကဲ့သို့သော အလွန်ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်းများ၏ ထူးခြားသောဂုဏ်သတ္တိများသည် မှန်ကန်သောပစ္စည်း၊ ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် ပုံသဏ္ဍာန်ကို indenting probe ၏ရွေးချယ်ရန်ခက်ခဲစေသည်။အရွယ်အစား။မျက်နှာပြင်နှင့် ထိတွေ့သည့်နေရာနှင့် ထိတွေ့သည့်ဧရိယာကို ဆုံးဖြတ်ရာတွင် အမှားအယွင်းများ ဖြစ်ပေါ်စေမည့် နမူနာ၏ ပျော့ပျောင်းသောမျက်နှာပြင်ကို အတွင်းသို့ indenter က မထိမိစေရန် အရေးကြီးပါသည်။
ယင်းအတွက်၊ အလွန်ပျော့ပျောင်းသော ဇီဝဓာတုပစ္စည်းများ (lehfilcon A CL) ၏ ပုံသဏ္ဍာန်ကို ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် နားလည်ရန် လိုအပ်ပါသည်။ပုံရိပ်ဖော်နည်းကို အသုံးပြု၍ ရရှိသော အကိုင်းအခက်ပိုလီမာစုတ်တံများ၏ အရွယ်အစားနှင့် ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံဆိုင်ရာ အချက်အလက်များသည် AFM nanoindentation နည်းပညာများကို အသုံးပြု၍ မျက်နှာပြင်၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ အသွင်အပြင်အတွက် အခြေခံကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။မိုက်ခရိုအရွယ် အရွယ်အစားရှိသော လုံးပတ်ကော်လိုဒိုင်း ပလေတပ်များအစား၊ ကျွန်ုပ်တို့သည် အစွန်အဖျားအချင်း 140 nm ရှိသော PFQNM-LC-A-CAL ဆီလီကွန်နိုက်ထရိတ် (Bruker) ကို ရွေးချယ်ခဲ့ပြီး၊ ဇီဝနမူနာများ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများကို အရေအတွက်မြေပုံထုတ်ရန်အတွက် အထူးဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော 140 nm၊ , 81, 82, 83, 84 သမားရိုးကျ colloidal probes များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက အတော်လေးချွန်ထက်သော probes များကို အသုံးပြုခြင်းအတွက် ကျိုးကြောင်းဆီလျော်မှုကို ပစ္စည်း၏ တည်ဆောက်ပုံသွင်ပြင်လက္ခဏာများဖြင့် ရှင်းပြနိုင်ပါသည်။ပုံ 3a တွင်ပြသထားသည့် CL lehfilcon A ၏မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အကိုင်းအခက်ပိုလီမာစုတ်တံများ (~140 nm) နှင့် probe ထိပ်ပိုင်းအရွယ်အစား (~140 nm) တို့ကို နှိုင်းယှဉ်ကြည့်လျှင် ထိပ်ဖျားသည် ဤစုတ်တံဖွဲ့စည်းပုံများနှင့် တိုက်ရိုက်ထိတွေ့ရန် လုံလောက်သည်ဟု ကောက်ချက်ချနိုင်သည်။ ၎င်းတို့ကို ဖြတ်၍ အဖျားဖောက်နိုင်ခြေကို လျော့နည်းစေသည်။ဤအချက်ကို သရုပ်ဖော်ရန်အတွက် ပုံ 4 တွင် lehfilcon A CL ၏ STEM ပုံတစ်ပုံဖြစ်ပြီး AFM probe ၏ indenting tip (စကေးသို့ဆွဲ) သည်။
lehfilcon A CL နှင့် ACM indentation probe ၏ STEM ပုံအား ပြသသည့် ဇယားကွက် (စကေးသို့ ရေးဆွဲသည်)။
ထို့အပြင်၊ CP-AFM nanoindentation method69,71 မှထုတ်လုပ်ထားသော ပိုလီမာဘရက်ရှများအတွက် ယခင်ကအစီရင်ခံထားသည့် စေးကပ်မှုဆိုင်ရာအကျိုးသက်ရောက်မှုများ၏အန္တရာယ်မှရှောင်ရှားရန် 140 nm ၏ထိပ်ဖျားအရွယ်အစားသည် သေးငယ်သည်။အထူး cone-spherical ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် ဤ AFM ထိပ်ဖျား (ပုံ. 1) ၏ သေးငယ်သော အရွယ်အစားကြောင့် lehfilcon A CL nanoindentation မှ ထုတ်ပေးသော force curve ၏ သဘောသဘာဝသည် indentation speed သို့မဟုတ် loading/unloading speed ပေါ်တွင်မူတည်မည်မဟုတ်ဟု ကျွန်ုပ်တို့ယူဆပါသည်။ .ထို့ကြောင့်၊ ၎င်းသည် poroelastic သက်ရောက်မှုကြောင့်မထိခိုက်ပါ။ဤယူဆချက်အား စမ်းသပ်ရန်အတွက် lehfilcon A CL နမူနာများကို PFQNM-LC-A-CAL probe ကို အသုံးပြု၍ ပုံသေ အမြင့်ဆုံး အင်အားဖြင့် လမ်းကြောင်းမှန်သို့ ညွှန်ပြခဲ့သည်၊ သို့သော် မတူညီသော အလျင်နှစ်ခုတွင်၊ ရလဒ်ထွက်ရှိသော tensile နှင့် retract force မျဉ်းကွေးများကို force (nN) ကိုဆွဲရန် အသုံးပြုခဲ့သည်။ ခြားနားခြင်း (µm) ကို ပုံ 5a တွင် ပြထားသည်။loading နှင့် unloading တွင် force curve သည် လုံးဝ ထပ်နေပါသည်၊၊ ပုံတွင် force shear သည် zero indentation depth တွင် indentation speed တိုးလာသည်၊၊ brush element တစ်ခုချင်းစီသည် pooelastic effect မရှိဘဲ character ဖြစ်နေကြောင်း ထင်ရှားသော အထောက်အထားမရှိပါ။ဆန့်ကျင်ဘက်အားဖြင့်၊ အရည်ထိန်းသိမ်းခြင်းအကျိုးသက်ရောက်မှုများ (viscous extrusion နှင့် pooelasticity အကျိုးသက်ရောက်မှု) သည် တူညီသော indentation speed တွင် 45 µm အချင်း AFM probe အတွက် ထင်ရှားပြီး ပုံ 5b တွင်ပြထားသည့်အတိုင်း ဆွဲဆန့်ခြင်းနှင့် ပြန်နုတ်ခြင်းမျဉ်းကြောင်းများကြားတွင် hysteresis ဖြင့် မီးမောင်းထိုးပြထားသည်။ဤရလဒ်များသည် သီအိုရီကို ထောက်ခံပြီး 140 nm အချင်း probes များသည် ပျော့ပျောင်းသော မျက်နှာပြင်များကို ပုံသဏ္ဍာန်ဖော်ပြရန်အတွက် ရွေးချယ်မှုကောင်းတစ်ခုဖြစ်သည်ဟု အကြံပြုပါသည်။
lehfilcon ACM ကို အသုံးပြု၍ CL indentation force မျဉ်းကွေးများ၊(က) အချင်း 140 nm ရှိသော probe ကို အသုံးပြု၍ loading rate နှစ်ခုဖြင့်၊ မျက်နှာပြင်အတွင်းတွင် poroelastic effect မရှိခြင်းကို သရုပ်ပြခြင်း၊(ခ) အချင်း 45 µm နှင့် 140 nm ရှိသော probes ကိုအသုံးပြုခြင်း။s သည် သေးငယ်သော probes များနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက ကြီးမားသော probes အတွက် viscous extrusion နှင့် pooelasticity တို့၏ အကျိုးသက်ရောက်မှုများကို ပြသသည်။
အလွန်ပျော့ပျောင်းသော မျက်နှာပြင်များကို ပုံဖော်ရန်အတွက်၊ AFM nanoindentation နည်းလမ်းများသည် လေ့လာမှုအောက်ရှိ ပစ္စည်း၏ ဂုဏ်သတ္တိများကို လေ့လာရန် အကောင်းဆုံး စုံစမ်းစစ်ဆေးမှု ရှိရပါမည်။အစွန်အဖျားပုံသဏ္ဍာန်နှင့် အရွယ်အစားအပြင်၊ AFM detector စနစ်၏ အာရုံခံနိုင်စွမ်း၊ စမ်းသပ်မှုပတ်ဝန်းကျင်ရှိ အစွန်အဖျားဘက်သို့ အာရုံခံနိုင်မှု နှင့် cantilever stiffness တို့သည် nanoindentation ၏ တိကျမှုနှင့် ယုံကြည်စိတ်ချရမှုကို ဆုံးဖြတ်ရာတွင် အရေးကြီးသောအခန်းကဏ္ဍမှ ပါဝင်ပါသည်။တိုင်းတာမှုများ။ကျွန်ုပ်တို့၏ AFM စနစ်အတွက်၊ ထောက်လှမ်းနိုင်သော Position Sensitive Detector (PSD) ကန့်သတ်ချက်သည် ခန့်မှန်းခြေ 0.5 mV ဖြစ်ပြီး ၎င်းနှင့် သက်ဆိုင်သည့် PFQNM-LC-A-CAL probe ၏ ကြိုတင်ချိန်ညှိထားသော စပရိန်နှုန်းနှင့် တွက်ချက်ထားသော fluid deflection sensitivity ကို အခြေခံထားသည်။ သီအိုရီအရ ဝန် sensitivity ။0.1 pN ထက်နည်းသည်။ထို့ကြောင့်၊ ဤနည်းလမ်းသည် အရံဆူညံသံ အစိတ်အပိုင်းမပါဘဲ အနည်းဆုံး indentation force ≤ 0.1 pN ၏ တိုင်းတာမှုကို ခွင့်ပြုသည်။သို့သော် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာတုန်ခါမှုနှင့် အရည်ဒိုင်းနမစ်များကဲ့သို့သော အကြောင်းရင်းများကြောင့် AFM စနစ်သည် အရံဆူညံသံများကို ဤအဆင့်အထိ လျှော့ချရန် မဖြစ်နိုင်ပေ။ဤအချက်များသည် AFM nanoindentation နည်းလမ်း၏ အလုံးစုံ အာရုံခံနိုင်စွမ်းကို ကန့်သတ်ထားပြီး ခန့်မှန်းခြေအားဖြင့် ≤ 10 pN ၏ နောက်ခံဆူညံသံအချက်ပြမှုကိုလည်း ဖြစ်ပေါ်စေပါသည်။မျက်နှာပြင်စရိုက်လက္ခဏာအတွက်၊ lehfilcon A CL နှင့် SiHy အလွှာနမူနာများကို SEM စရိုက်လက္ခဏာပြုခြင်းအတွက် 140 nm probe ကို အသုံးပြု၍ ရေဓာတ်အပြည့်အ၀ရှိသော အခြေအနေများအောက်တွင် လမ်းကြောင်းပြထားပြီး ထွက်ပေါ်လာသော တွန်းအားမျဉ်းကွေးများကို force (pN) နှင့် ဖိအားကြားတွင် လွှမ်းမိုးထားသည်။ခြားနားခြင်းကွက် (µm) ကို ပုံ 6a တွင် ပြထားသည်။SiHy အောက်ခြေအလွှာနှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက lehfilcon A CL တွန်းအားမျဉ်းကွေးသည် ဆံခြည်မျှင်ပိုလီမာဘရက်ရှ်နှင့် ထိတွေ့သည့်နေရာမှစတင်ကာ အကူးအပြောင်းအဆင့်ကို ရှင်းရှင်းလင်းလင်းပြသပြီး ထိပ်ဖျား၏ လျှောစောက်အမှတ်အသားပြုသည့်အဆက်အသွယ်တွင် သိသိသာသာပြောင်းလဲမှုဖြင့် အဆုံးသတ်ပါသည်။တွန်းအားမျဉ်းကွေး၏ ဤအသွင်ကူးပြောင်းရေးအပိုင်းသည် တင်းမာမှုမျဉ်းကွေးပြီးနောက် ဖိသိပ်မှုမျဉ်းကွေးနှင့် စုတ်တံဖွဲ့စည်းပုံနှင့် ကြီးမားသော SiHy ပစ္စည်းကြားရှိ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဂုဏ်သတ္တိများ ခြားနားမှုကို ထောက်ပြထားသည့်အတိုင်း မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ အကိုင်းအခက်ပိုလီမာဘရက်ရှ၏ အမှန်တကယ် elastic အပြုအမူကို မီးမောင်းထိုးပြပါသည်။lefilcon နဲ့ နှိုင်းယှဉ်တဲ့အခါ။PCS ၏ STEM ပုံ (ပုံ 3a) ရှိ အကိုင်းအခက် ပေါ်လီမာ ဘရက်ရှ်၏ ပျမ်းမျှ အရှည်နှင့် ပုံ 3a ရှိ abscissa တစ်လျှောက် ၎င်း၏ တွန်းအားမျဉ်းကြောင်း ခွဲခြားထားသည်။6a သည် နည်းလမ်းသည် ထိပ်ဖျားနှင့် မျက်နှာပြင်၏ အပေါ်ဘက်သို့ အကိုင်းအခက်ရှိသော ပိုလီမာကို ထောက်လှမ်းနိုင်ကြောင်း ပြသသည်။စုတ်တံတည်ဆောက်ပုံများအကြား ဆက်သွယ်မှု။ထို့အပြင်၊ တွန်းအားမျဉ်းကွေးများ၏ အနီးကပ်ထပ်နေသည့်အရာသည် အရည်ထိန်းထားနိုင်သောအကျိုးသက်ရောက်မှုမရှိကြောင်း ညွှန်ပြသည်။ဤကိစ္စတွင်၊ အပ်နှင့်နမူနာ၏မျက်နှာပြင်ကြားတွင် ကပ်ငြိမှုလုံးဝမရှိပါ။နမူနာနှစ်ခုအတွက် တွန်းအားမျဉ်းကွေးများ၏ အပေါ်ဆုံးအပိုင်းသည် ထပ်နေသဖြင့် အလွှာလွှာပစ္စည်းများ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများကို ရောင်ပြန်ဟပ်သည်။
(က) lehfilcon A CL အလွှာနှင့် SiHy အလွှာအတွက် AFM nanoindentation တွန်းအားမျဉ်းကွေးများ၊ (ခ) နောက်ခံဆူညံသံအဆင့်သတ်မှတ်ခြင်းနည်းလမ်းကို အသုံးပြု၍ အဆက်အသွယ်ပွိုင့် ခန့်မှန်းချက်ပြသသည့် တွန်းအားမျဉ်းကွေးများ။
တွန်းအားမျဉ်းကွေး၏ အသေးစိပ်အသေးစိတ်အချက်အလက်များကို လေ့လာရန်အတွက် lehfilcon A CL နမူနာ၏ တင်းမာမှုမျဉ်းကွေးကို ပုံ 6b တွင် y-ဝင်ရိုးတစ်လျှောက် အမြင့်ဆုံးအား 50 pN ဖြင့် ပြန်လည်ပုံဖော်ထားသည်။ဤဂရပ်သည် မူရင်းနောက်ခံဆူညံသံနှင့် ပတ်သက်၍ အရေးကြီးသော အချက်အလက်ကို ပေးဆောင်သည်။ဆူညံသံသည် ±10 pN အကွာအဝေးတွင်ရှိပြီး ဆက်သွယ်ရန်အမှတ်ကို တိကျစွာဆုံးဖြတ်ရန်နှင့် indentation အတိမ်အနက်ကို တွက်ချက်ရန်အတွက် အသုံးပြုသည်။စာပေတွင် အစီရင်ခံထားသည့်အတိုင်း၊ Modulus85 ကဲ့သို့သော ပစ္စည်းဂုဏ်သတ္တိများကို တိကျစွာအကဲဖြတ်ရန် အဆက်အသွယ်အမှတ်များကို ဖော်ထုတ်ခြင်းသည် အရေးကြီးပါသည်။အင်အားမျဉ်းကွေးဒေတာကို အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်ခြင်းပါ၀င်သည့် ချဉ်းကပ်မှုတစ်ခုသည် ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်းများအတွက် ဒေတာကိုက်ညီမှုနှင့် အရေအတွက်တိုင်းတာမှုအကြား ပိုမိုကောင်းမွန်သော ကိုက်ညီမှုကို ပြသထားသည်။ဤလုပ်ငန်းတွင်၊ ကျွန်ုပ်တို့၏ ဆက်သွယ်ရန်အချက်များ ရွေးချယ်မှုသည် အတော်လေးရိုးရှင်းပြီး ရည်ရွယ်ချက်ရှိသော်လည်း ၎င်းတွင် အကန့်အသတ်များရှိသည်။ကျွန်ုပ်တို့၏ ရှေးရိုးစွဲဆန်သော ချဉ်းကပ်မှုမှ အဆက်အသွယ်အမှတ်ကို အဆုံးအဖြတ်ပေးခြင်းသည် သေးငယ်သော indentation depths (< 100 nm) အတွက် အနည်းငယ်ပို၍ ခန့်မှန်းထားသော မိုဒူလပ်တန်ဖိုးများကို ဖြစ်ပေါ်စေနိုင်သည်။algorithm-based touchpoint detection နှင့် automated data processing ကိုအသုံးပြုခြင်းသည် ကျွန်ုပ်တို့၏နည်းလမ်းကို ပိုမိုတိုးတက်ကောင်းမွန်လာစေရန် အနာဂတ်တွင် ဤလုပ်ငန်းကို ဆက်လက်လုပ်ဆောင်သွားမည်ဖြစ်ပါသည်။ထို့ကြောင့်၊ ±10 pN ၏အစီအစဥ်ရှိ ပင်ကိုယ်နောက်ခံဆူညံမှုအတွက်၊ ပုံ 6b ရှိ x-axis ပေါ်ရှိ ပထမဆုံးဒေတာအမှတ်ကို ≥10 pN တန်ဖိုးဖြင့် ကျွန်ုပ်တို့သတ်မှတ်ထားသည်။ထို့နောက်၊ 10 pN ၏ ဆူညံမှုအဆင့်နှင့်အညီ၊ ~0.27 µm အဆင့်ရှိ ဒေါင်လိုက်မျဉ်းသည် မျက်နှာပြင်နှင့် ထိတွေ့သည့်အမှတ်အသားဖြစ်ပြီး၊ ထို့နောက် ဆန့်မျဉ်းကွေးသည် အလွှာ၏ indentation အတိမ်အနက် ~270 nm နှင့် ပြည့်မီသည်အထိ ဆက်သွားမည်ဖြစ်သည်။စိတ်ဝင်စားစရာကောင်းသည်မှာ၊ ပုံရိပ်ဖော်နည်းလမ်းကိုအသုံးပြု၍ တိုင်းတာထားသော အကိုင်းအခက်ပေါ်လီမာစုတ်တံ၏ အရွယ်အစားအပေါ်အခြေခံ၍ CL lehfilcon ၏ indentation depth သည် နောက်ခံဆူညံသံအဆင့်သတ်မှတ်နည်းလမ်းကိုအသုံးပြု၍ လေ့လာတွေ့ရှိရသော နမူနာတစ်ခုသည် 270 nm ခန့်ဖြစ်ပြီး၊ ၎င်းနှင့် အလွန်နီးကပ်ပါသည်။ STEM ဖြင့် တိုင်းတာသည့် အရွယ်အစား။ဤရလဒ်များသည် အလွန်ပျော့ပျောင်းပြီး အလွန်ပျော့ပျောင်းသောကိုင်းဆက်ထားသော ပေါ်လီမာ ဘရပ်ရှ်ဖွဲ့စည်းပုံကို ညွှန်ပြရန်အတွက် AFM စုံစမ်းစစ်ဆေးရေးထိပ်ဖျား၏ ပုံသဏ္ဍာန်နှင့် အရွယ်အစားနှင့် လိုက်ဖက်ညီမှုနှင့် အသုံးပြုနိုင်မှုကို ထပ်မံအတည်ပြုပါသည်။ဤဒေတာသည် အဆက်အသွယ်အမှတ်များကို ညွှန်ပြရန်အတွက် သတ်မှတ်ချက်တစ်ခုအဖြစ် နောက်ခံဆူညံသံကို အသုံးပြုသည့် ကျွန်ုပ်တို့၏နည်းလမ်းကို ပံ့ပိုးရန် ခိုင်မာသောအထောက်အထားကိုလည်း ပေးပါသည်။ထို့ကြောင့် သင်္ချာပုံသဏ္ဍာန်နှင့် တွန်းအားမျဉ်းကွေးကိုက်ညီမှုမှရရှိသော ကိန်းဂဏန်းရလဒ်များသည် အတော်လေး တိကျသင့်သည်။
AFM nanoindentation နည်းလမ်းများဖြင့် ကိန်းဂဏန်းတိုင်းတာခြင်းများသည် ဒေတာရွေးချယ်မှုနှင့် နောက်ဆက်တွဲခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာမှုအတွက် အသုံးပြုသည့် သင်္ချာမော်ဒယ်များပေါ်တွင် လုံးဝမူတည်ပါသည်။ထို့ကြောင့်၊ မော်ဒယ်တစ်ခုကိုမရွေးချယ်မီ Indenter၊ ပစ္စည်းဂုဏ်သတ္တိများနှင့် ၎င်းတို့၏အပြန်အလှန်တုံ့ပြန်မှုဆိုင်ရာ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာရွေးချယ်မှုဆိုင်ရာ အချက်အားလုံးကို ထည့်သွင်းစဉ်းစားရန် အရေးကြီးပါသည်။ဤကိစ္စတွင်၊ အစွန်အဖျားဂျီသြမေတြီကို SEM မိုက်ခရိုဂရပ်များ (ပုံ. 1) ကိုအသုံးပြု၍ ဂရုတစိုက်ဖော်ပြခဲ့ပြီး ရလဒ်များအပေါ် အခြေခံ၍ 140 nm အချင်း AFM nanoindenting probe သည် မာကြောသောပုံးနှင့် လုံးပတ်အစွန်အဖျားဂျီသြမေတြီသည် lehfilcon A CL79 နမူနာများကို ပုံသွင်းရန်အတွက် ကောင်းမွန်သောရွေးချယ်မှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ .ဂရုတစိုက်အကဲဖြတ်ရန်လိုအပ်သည့်နောက်ထပ်အရေးကြီးသောအချက်မှာစမ်းသပ်စစ်ဆေးနေသောပိုလီမာပစ္စည်း၏ elasticity ဖြစ်သည်။nanoindentation ၏ကနဦးဒေတာ (ပုံ. 5a နှင့် 6a) သည် တင်းမာမှုနှင့် ဖိသိပ်မှုမျဉ်းကွေးများ၏ ထပ်နေသောအင်္ဂါရပ်များကို ရှင်းလင်းစွာဖော်ပြထားသော်လည်း၊ ဆိုလိုသည်မှာ ပစ္စည်း၏ elastic ပြန်လည်ကောင်းမွန်ခြင်းမှာ အဆက်အသွယ်များ၏ ပျော့ပျောင်းသောသဘောသဘာဝကို အတည်ပြုရန် အလွန်အရေးကြီးပါသည်။ .ဤအဆုံးသတ်ရန်အတွက်၊ ရေဓာတ်ပြည့်ဝသောအခြေအနေအောက်တွင် 1 µm/s ဖြင့် indentation rate 1 µm/s ဖြင့် lehfilcon A CLနမူနာ၏မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ တစ်နေရာတည်းတွင် ဆက်တိုက်ရေးထိုးခြင်းနှစ်ခုလုပ်ဆောင်ခဲ့သည်။ရလဒ်အား မျဉ်းကွေးဒေတာကို ပုံတွင် ပြထားသည်။7 နှင့် မျှော်လင့်ထားသည့်အတိုင်း၊ ပရင့်နှစ်ခု၏ ချဲ့ထွင်မှုနှင့် ဖိသိပ်မှုမျဉ်းကွေးများသည် တူညီလုနီးပါးဖြစ်ပြီး အကိုင်းအခက်ရှိသော ပေါ်လီမာစုတ်တံဖွဲ့စည်းပုံ၏ မြင့်မားသော elasticity ကို မီးမောင်းထိုးပြပါသည်။
lehfilcon A CL ၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ တစ်နေရာတည်းတွင် Indentation force curves နှစ်ခုသည် မှန်ဘီလူးမျက်နှာပြင်၏ စံပြ elasticity ကို ညွှန်ပြသည်။
Probe tip နှင့် lehfilcon A CL မျက်နှာပြင်၏ SEM နှင့် STEM ပုံရိပ်များမှရရှိသော အချက်အလက်များအပေါ် အခြေခံ၍ cone-sphere မော်ဒယ်သည် AFM probe ထိပ်ဖျားနှင့် ပျော့ပျောင်းသောပေါ်လီမာပစ္စည်းတို့အကြား အပြန်အလှန်တုံ့ပြန်မှုဆိုင်ရာ သင်္ချာဆိုင်ရာ ကိုယ်စားပြုမှုတစ်ခုဖြစ်သည်။ထို့အပြင်၊ ဤ cone-sphere မော်ဒယ်အတွက်၊ ပုံနှိပ်ထားသော ပစ္စည်း၏ elastic ဂုဏ်သတ္တိများဆိုင်ရာ အခြေခံယူဆချက်များသည် ဤ biomimetic ပစ္စည်းအသစ်အတွက် မှန်ကန်ပြီး elastic modulus ကို အရေအတွက်အတွက် အသုံးပြုပါသည်။
AFM nanoindentation method ကို ကျယ်ကျယ်ပြန့်ပြန့် အကဲဖြတ်ပြီးနောက် Indentation Probe ဂုဏ်သတ္တိများ (ပုံသဏ္ဍာန်၊ အရွယ်အစားနှင့် စပရိန်တင်းမာမှု) အပါအဝင် အာရုံခံနိုင်စွမ်း (နောက်ခံဆူညံသံနှင့် အဆက်အသွယ်ပွိုင့် ခန့်မှန်းချက်) နှင့် ဒေတာ အံဝင်ခွင်ကျ မော်ဒယ်များ (quantitative modulus တိုင်းတာမှုများ)၊ အသုံးပြုခံ့။အရေအတွက်ရလဒ်များကို အတည်ပြုရန်အတွက် စီးပွားဖြစ်ရရှိနိုင်သော အလွန်ပျော့ပျောင်းသောနမူနာများကို လက္ခဏာရပ်ပြပါ။1 kPa ၏ elastic modulus ပါရှိသော စီးပွားဖြစ် polyacrylamide (PAAM) ဟိုက်ဒရိုဂျယ်ကို 140 nm probe ကို အသုံးပြု၍ ရေဓာတ်ခန်းခြောက်သည့်အခြေအနေအောက်တွင် စမ်းသပ်ခဲ့သည်။မော်ဂျူးစမ်းသပ်ခြင်းနှင့် တွက်ချက်မှုအသေးစိတ်အချက်အလက်များကို နောက်ဆက်တွဲအချက်အလက်များတွင် ဖော်ပြထားသည်။တိုင်းတာသည့် ပျမ်းမျှ မိုဒူလပ် 0.92 kPa နှင့် %RSD နှင့် ရာခိုင်နှုန်း (%) သွေဖည်မှုမှာ 10% ထက်နည်းကြောင်း ရလဒ်များက ပြသခဲ့သည်။ဤရလဒ်များသည် ultrasoft ပစ္စည်းများ၏ moduli ကိုတိုင်းတာရန် ဤလုပ်ငန်းတွင်အသုံးပြုသည့် AFM nanoindentation နည်းလမ်း၏ တိကျမှုနှင့် ပြန်လည်ထုတ်လုပ်နိုင်မှုကို အတည်ပြုသည်။lehfilcon A CL နမူနာများနှင့် SiHy အောက်ခံအလွှာ၏ မျက်နှာပြင်များသည် တူညီသော AFM nanoindentation နည်းလမ်းကို အသုံးပြု၍ ultrasoft မျက်နှာပြင်၏ ထင်ရှားသော ထိတွေ့မှုမညူလပ်ကို ဖြည့်သွင်းခြင်း၏ လုပ်ဆောင်မှုအဖြစ် အတိမ်အနက်ကို လေ့လာခြင်းဖြစ်သည်။300 pN စွမ်းအား၊ 1 µm/s အရှိန်နှင့် ရေဓာတ်ပြည့်ဝသော အမျိုးအစားတစ်ခုစီ၏ နမူနာသုံးမျိုးအတွက် Indentation force ခွဲထုတ်ခြင်းမျဉ်းကွေးများကို ထုတ်ပေးခဲ့သည်။indentation force sharing curve ကို cone-sphere model ကို အသုံးပြု၍ ခန့်မှန်းထားပါသည်။indentation depth ပေါ်မူတည်၍ modulus ရရှိရန်၊ ထိတွေ့မှုအမှတ်မှစတင်သည့် 20 nm အတိုးတစ်ခုစီတွင် force curve ၏ 40 nm ကျယ်သောအပိုင်းကို သတ်မှတ်ပြီး force curve ၏ အဆင့်တစ်ဆင့်စီတွင် modulus တန်ဖိုးများကို တိုင်းတာသည်။Spin Cy et al ။colloidal AFM probe nanoindentation ကို အသုံးပြု၍ poly(lauryl methacrylate) (P12MA) ပေါ်လီမာစုတ်တံများ၏ modulus gradient ကိုဖော်ပြရန်အတွက် အလားတူနည်းလမ်းကို အသုံးပြုထားပြီး ၎င်းတို့သည် Hertz contact model ကိုအသုံးပြုထားသော data နှင့် ကိုက်ညီပါသည်။ဤချဉ်းကပ်မှုသည် ပုံ 8 တွင်ပြထားသည့်အတိုင်း ထင်ရှားသောအဆက်အသွယ်မွမ်းမံမှု (kPa) နှင့် indentation depth (nm) ကွက်ကွက်ကို ပံ့ပိုးပေးသည်၊ ၎င်းသည် ထင်ရှားသောအဆက်အသွယ်မွမ်းမံမှု/အတိမ်အနက်ရောင်အဆင့်ကိုဖော်ပြသည်။CL lehfilcon A နမူနာ၏ တွက်ချက်ထားသော elastic modulus သည် နမူနာ၏အထက် 100 nm အတွင်း 2-3 kPa အကွာအဝေးတွင်ရှိပြီး အနက်မှစတင်လာသည်ကိုကျော်လွန်သည်။တစ်ဖက်တွင်၊ SiHy အောက်ခံအလွှာကို မျက်နှာပြင်ပေါ်ရှိ စုတ်တံကဲ့သို့ ဖလင်မပါဘဲ စမ်းသပ်သောအခါ၊ 300 pN ၏ အမြင့်ဆုံး indentation depth သည် 50 nm ထက်နည်းပြီး data မှရရှိသော modulus တန်ဖိုးသည် 400 kPa ခန့်ဖြစ်သည်။ အမြောက်အများ အတွက် Young's modulus ၏ တန်ဖိုးများနှင့် နှိုင်းယှဉ်နိုင်သော၊
မော်ဒူလပ်များကို တိုင်းတာရန်အတွက် cone-sphere geometry ဖြင့် AFM nanoindentation method ကို အသုံးပြု၍ lehfilcon A CL နှင့် SiHy အလွှာအတွက် ထင်ရှားသော အဆက်အသွယ် မော်ဒူလပ် (kPa) နှင့် အင်တင်းအတိမ်အနက် (nm)။
ဝတ္ထု biomimetic အကိုင်းအခက် ပေါ်လီမာ ဘရက်ရှ်ဖွဲ့စည်းပုံ၏ အပေါ်ဆုံး မျက်နှာပြင်သည် ပျော့ပျောင်းမှု အလွန်နည်းသော မိုဒူလပ်စ် (2-3 kPa) ကို ပြသသည်။၎င်းသည် STEM ပုံတွင်ပြထားသည့်အတိုင်း ဆံခြည်မျှင်ပေါ်လီမာဘရက်ရှ်၏ အခမဲ့တွဲလောင်းအဆုံးနှင့် ကိုက်ညီမည်ဖြစ်သည်။CL ၏ အပြင်ဘက်အစွန်းတွင် modulus gradient ၏ အထောက်အထားအချို့ရှိသော်လည်း၊ ပင်မမြင့်မားသော modulus အလွှာသည် ပိုမိုသြဇာညောင်းသည်။သို့သော်၊ မျက်နှာပြင်၏ထိပ်ပိုင်း 100 nm သည် အကိုင်းအခက်ရှိသော ပိုလီမာစုတ်တံ၏ စုစုပေါင်းအလျား၏ 20% အတွင်းတွင် ရှိနေသောကြောင့် ဤ indentation depth range ရှိ modulus ၏ တိုင်းတာထားသော တန်ဖိုးများသည် အတော်လေးတိကျပြီး ပြင်းထန်စွာမလုပ်ဆောင်နိုင်ဟု ယူဆရန် ကျိုးကြောင်းဆီလျော်ပါသည်။ အောက်ခြေအရာဝတ္ထု၏အကျိုးသက်ရောက်မှုအပေါ် မူတည်.
SiHy အလွှာများ၏ မျက်နှာပြင်ပေါ်တွင် ကိုင်းဆက်ထားသော PMPC ပေါ်လီမာ စုတ်တံများပါ၀င်သော lehfilcon A မျက်ကပ်မှန်များ၏ ထူးခြားသော biomimetic ဒီဇိုင်းကြောင့်၊ ရိုးရာ တိုင်းတာမှုနည်းလမ်းများကို အသုံးပြု၍ ၎င်းတို့၏ မျက်နှာပြင်တည်ဆောက်ပုံများ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများကို ယုံကြည်စိတ်ချစွာ သတ်မှတ်ရန် အလွန်ခက်ခဲပါသည်။ဤတွင် ကျွန်ုပ်တို့သည် ရေပါဝင်မှုမြင့်မားပြီး အလွန်ပျော့ပျောင်းသော lefilcon A ကဲ့သို့သော အလွန်ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်းများကို တိကျစွာဖော်ပြရန်အတွက် အဆင့်မြင့် AFM nanoindentation နည်းလမ်းကို တင်ပြထားပါသည်။ဤနည်းလမ်းသည် ရိုက်နှိပ်ခံရမည့် အလွန်ပျော့ပျောင်းသော မျက်နှာပြင်အင်္ဂါရပ်များ၏ တည်ဆောက်ပုံဆိုင်ရာ အတိုင်းအတာများနှင့် ကိုက်ညီရန် ထိပ်ဖျားအရွယ်အစားနှင့် ဂျီသြမေတြီကို ဂရုတစိုက်ရွေးချယ်ထားသည့် AFM probe ကို အသုံးပြုမှုအပေါ် အခြေခံထားသည်။probe နှင့် ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံကြားရှိ အတိုင်းအတာများ၏ ပေါင်းစပ်မှုသည် အာရုံခံနိုင်စွမ်းကို တိုးမြင့်စေသောကြောင့် ကျွန်ုပ်တို့အား poroelastic သက်ရောက်မှုများ မခွဲခြားဘဲ အကိုင်းအခက်ရှိသော ပိုလီမာစုတ်တံဒြပ်စင်များ၏ အနိမ့်ပိုင်းနှင့် မွေးရာပါ elastic ဂုဏ်သတ္တိများကို တိုင်းတာနိုင်စေပါသည်။မှန်ဘီလူးမျက်နှာပြင်၏ထူးခြားသောအကိုင်းအခက်ရှိသော PMPC ပေါ်လီမာစုတ်တံများသည် အလွန်နိမ့်သော elastic modulus (2 kPa အထိ) နှင့် အလွန်မြင့်မားသော elasticity (100%) နီးပါးရှိကြောင်း ရလဒ်များကပြသခဲ့သည်။AFM nanoindentation ၏ရလဒ်များသည် biomimetic မှန်ဘီလူးမျက်နှာပြင်၏ထင်ရှားသောအဆက်အသွယ်မွမ်းမံမှု/အတိမ်အနက် (30 kPa/200 nm) ကိုဖော်ပြနိုင်စေပါသည်။ဤအရောင်ပြောင်းမှုသည် အကိုင်းအခက်ရှိသော ပိုလီမာစုတ်တံများနှင့် SiHy အလွှာကြားရှိ မော်ဒူလပ်ခြားနားချက်၊ သို့မဟုတ် ပေါ်လီမာစုတ်တံများ၏ အကိုင်းအခက်ဖွဲ့စည်းပုံ/သိပ်သည်းဆ သို့မဟုတ် ယင်းတို့ကို ပေါင်းစပ်ခြင်းကြောင့် ဖြစ်နိုင်သည်။သို့သော်၊ အထူးသဖြင့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာဂုဏ်သတ္တိများပေါ်တွင် စုတ်တံကိုင်းဆက်ခြင်း၏ အကျိုးသက်ရောက်မှုကို အပြည့်အဝနားလည်ရန် နောက်ထပ်အတွင်းကျကျလေ့လာမှုများ လိုအပ်ပါသည်။အလားတူ တိုင်းတာမှုများသည် အခြားသော အလွန်ပျော့ပျောင်းသော ပစ္စည်းများနှင့် ဆေးဘက်ဆိုင်ရာ စက်ပစ္စည်းများ၏ မျက်နှာပြင်၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများကို ခွဲခြားသတ်မှတ်ရာတွင် ကူညီပေးနိုင်ပါသည်။
လက်ရှိလေ့လာနေစဉ်အတွင်း ထုတ်လုပ်ပြီး/သို့မဟုတ် ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာထားသော ဒေတာအတွဲများကို သက်ဆိုင်ရာစာရေးဆရာများမှ ကျိုးကြောင်းဆီလျော်စွာ တောင်းဆိုမှုဖြင့် ရရှိနိုင်ပါသည်။
Rahmati, M., Silva, EA, Reseland, JE, Hayward, K. and Haugen, HJ ဇီဝပစ္စည်းများ၏ မျက်နှာပြင်များ၏ ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာနှင့် ဓာတုဂုဏ်သတ္တိများကို ဇီဝဗေဒဆိုင်ရာ တုံ့ပြန်မှုများ။ဓာတုဗေဒ။လူ့အဖွဲ့အစည်း။အက်ဒ်။49၊ 5178–5224 (2020)။
Chen၊ FM နှင့် Liu၊ X။ တစ်သျှူးအင်ဂျင်နီယာအတွက် လူသားမှရရှိသော ဇီဝပစ္စည်း တိုးတက်မှု။ပရိုဂရမ်ရေးခြင်း။ပိုလီမာ။သိပ္ပံပညာ။၅၃ ၈၆ (၂၀၁၆)။
Sadtler, K. et al.မျိုးဆက်သစ်ဆေးပညာတွင် ဇီဝပစ္စည်းများ၏ ဒီဇိုင်း၊ လက်တွေ့အကောင်အထည်ဖော်မှုနှင့် ကိုယ်ခံအားတုံ့ပြန်မှု။အမျိုးသား Matt Rev. 1, 16040 (2016)။
Oliver WK နှင့် Farr GM သည် ဝန်နှင့် နေရာရွှေ့ပြောင်းမှု တိုင်းတာခြင်းများဖြင့် indentation စမ်းသပ်မှုများကို အသုံးပြု၍ မာကျောမှုနှင့် elastic modulus ကို ဆုံးဖြတ်ရန်အတွက် ပိုမိုကောင်းမွန်သောနည်းလမ်းတစ်ခု။J. Alma materသိုလှောင်မှုကန်။7၊ 1564–1583 (2011)။
ကောင်းစွာ၊ SM သည် ခိုင်မာမှုစမ်းသပ်ခြင်း၏ သမိုင်းဝင် ဇစ်မြစ်ဖြစ်သည်။အယ်မာမာ။သိပ္ပံပညာ။နည်းပညာများ။၂၈၊ ၁၀၂၈–၁၀၄၄ (၂၀၁၂)။
Broitman၊ E. Indentation Hardness တိုင်းတာချက်များ Macro-၊ Micro- နှင့် Nanoscale- ဝေဖန်ပိုင်းခြားသုံးသပ်ချက်။နွယ်။ရိုက်တယ်။၆၅၊ ၁–၁၈ (၂၀၁၇)။
Kaufman၊ JD နှင့် Clapperich၊ SM Surface detection အမှားအယွင်းများသည် ပျော့ပျောင်းသောပစ္စည်းများကို နာနိုဝင်အောင်ပြုလုပ်ခြင်းတွင် modulus overestimation ကိုဖြစ်ပေါ်စေသည်။J. Mechaအနေအထိုင်။ဇီဝဆေးသိပ္ပံ။အယ်မာမာ။၂၊ ၃၁၂–၃၁၇ (၂၀၀၉)။
Karimzade A., Koloor SSR, Ayatollakhi MR, Bushroa AR နှင့် Yahya M.Yu.စမ်းသပ်ခြင်းနှင့် တွက်ချက်နည်းများကို အသုံးပြု၍ ကွဲပြားသော nanocomposites များ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဝိသေသလက္ခဏာများကို ဆုံးဖြတ်ရန်အတွက် nanoindentation နည်းလမ်းကို အကဲဖြတ်ခြင်း။သိပ္ပံပညာ။အိမ် ၉၊ ၁၅၇၆၃ (၂၀၁၉)။
Liu၊ K.၊ VanLendingham၊ MR နှင့် Owart၊ TS သည် ပျော့ပျောင်းသော viscoelastic gels များ၏ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ လက္ခဏာရပ်များကို indentation နှင့် optimization-based inverse finite element ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းဖြင့်။J. Mechaအနေအထိုင်။ဇီဝဆေးသိပ္ပံ။အယ်မာမာ။၂၊ ၃၅၅–၃၆၃ (၂၀၀၉)။
Andrews JW၊ Bowen J နှင့် Chaneler D. လိုက်ဖက်ညီသော တိုင်းတာမှုစနစ်များကို အသုံးပြု၍ viscoelasticity ဆုံးဖြတ်ချက်ကို ပိုမိုကောင်းမွန်အောင်ပြုလုပ်ခြင်း။Soft Matter 9၊ 5581–5593 (2013)။
Briscoe၊ BJ၊ Fiori၊ L. နှင့် Pellillo၊ E. Nanoindentation of polymeric မျက်နှာပြင်။J. ရူပဗေဒ။D. ရူပဗေဒကို လျှောက်ထားပါ။၃၁၊ ၂၃၉၅ (၁၉၉၈)။
Miyailovich AS, Tsiin B., Fortunato D. နှင့် Van Vliet KJ တို့သည် shock indentation ကို အသုံးပြု၍ အလွန် elastic ပေါ်လီမာများနှင့် ဇီဝတစ်ရှူးများ၏ viscoelastic စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများကို ဖော်ပြခြင်း။Biomaterials ဂျာနယ်။71၊ 388–397 (2018)။
Perepelkin NV၊ Kovalev AE၊ Gorb SN၊ Borodich FM သည် တိုးချဲ့ Borodich-Galanov (BG) နည်းလမ်းနှင့် နက်ရှိုင်းသော အင်တင်းကို အသုံးပြု၍ ပျော့ပျောင်းသော ပစ္စည်းများ၏ elastic modulus နှင့် adhesion လုပ်ဆောင်မှုကို အကဲဖြတ်ခြင်း။သားမွေး။အယ်မာမာ။129၊ 198–213 (2019)။
Shi, X. et al.ဆီလီကွန် ဟိုက်ဒရိုဂျယ်လ် မျက်ကပ်မှန်များ၏ ဇီဝရုပ်ထုပိုလီမာမျက်နှာပြင်များ၏ နာနိုစကေးပုံသဏ္ဍာန်နှင့် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများ။Langmuir 37၊ 13961–13967 (2021)။